Energy Dispersive X-ray Fluorescens spectrometer

Product Picture

Clifficulter

Opus temperatum：15℃-30℃, Virtutis copia; AC 220V±5V

Relativum humiditatis: ＜ 70%,Non Cpremens          Power: 95w

2.Product commoda

QT-XAU Energy Dissidens X-radius Fluorescens spectrometer est spectrum analysris valde integratum pro RoHS probatio et analysi halogen enucleatum.

Late usus est in qualitate temperantiae, advenientisinspectio; et mensurae gignendi potestatem.

1) Coetus Si-PIN semiconductor detector deprehensionem range et diligentiam valde emendat

2) programmatio clausa humaniora, culpa latae sententiae, promptae correctionis et operandi gradus ad vitandam disoperationem

3) RoHS et halogen elementa noxia deprehenduntur et modus deprehendendi 2ppm . attingere potest

4) Aggregatio technologiae gradu humili instructa, diffusio proximae maculae vndique minor est quam 10%

5) Utens summus definitionis ratio camerae positionis, specimen clare observatur et positio accurata est

6) Princeps modularis accessiones nuclei designatio, compages compacta, mutuam electromagneticam impedimentum vitat, modum instrumenti detectionem ampliat et instrumenti defectum minuit.

VII) In levi consilio, ieiunium mensurae specimen

8) One-key RoHS detection, automatic identification of material categories and automatic adapting programs, to obtain one-key analysi

3.Industry application

RoHS (Halogen) est vexillum mandatum quod ab EU legislatione formatur. Solet maxime moderari signa materialia et processus electrica productorum et electronicorum. Propositum est abolere plumbum, mercurium, cadmium, chromium hexavalentem, biphenylum polybrominatum et biphenylos polybrominatos in productis electricas et electronicis. Substantiae sunt 6 in aethere, et substat plumbi contentum excedere 0,1% non posse.

Vexillum nationale SJ/T 11365-2006 "Modos probandi pro substantiis toxicis et periculosis in Electronic Information Products" limitat methodos tentandi pro elementis nocivis in RoHS requisitis. Inter eos, X-radius fluorescens spectrometriae (XRF) ut celeri methodo protegendo formata est ut celeriter et opportuna methodus. Plumbum (Pb), Mercurium (Hg), Cadmium (Cd), Chromium (Cr), Brominum (Br), Chlorinum (Cl) et alia elementa accurate examinari possunt utens X-radius fluorescens spectroscopium (XRF).

XAU est RoHS (halogen) detector independenter a evolutaQiantongInstrumenta in compositione cum RoHS (halogen) signis probativis et emptoribus necessariis. spectroscopium deprehensionis technologiae fluorescens X-radius adoptat ac summus effectus Si-PIN semiconductor detectores introducit, qui deprehensionem effectus valde melioris facit. Scopus et diligentia accurate deprehendere potest substantias metallicas graves noxias sicut plumbum, mercurium, cadmium, chromium total, bromineum, etc., et late in productione electronic producto, ludibrio fabricando, ferramento fabricando, moribus, qualitatibus inspectionis et institutionum electronicarum adhibetur. aliis campis.

4.Cubits technical

(Si speciales necessitates habetis, cum Lorem Instrumento ad exemplar customize tractari potestis)

5.Software interface

Tortor EFP software operatio interface:

1 .Patet operatio interface layout

        Simplex propositum propositum dat operatorem ut cito principalem operationem programmatis perdat.

2.Brevis button design

        Pone saepe programmata cum brevibus bullis utens, exempli gratia sine ingressu bibliothecae lectionis probetur, operis efficaciam amplio.

3.Summus definition visualization fenestra

Status exempli probati clare et intuenti observari potest.

4.Spectrum interface

        Omnia elementa spectrum quae specimen informationem continet clare

interface in spectro exponi. Eventus spectri informationis specimen probati accurate computari potest, coniungendo cum spectro solutionis technologiae provectae.

5.Real-time magna operandi Morbi

        Omnia instrumenti notitia observari poteststatim. Si qua est deprauatio, primum ratio commonebit, errorem operationis vehementer minuere.